Semiconductor devices in general Standards

Semiconductor devices in general Standards

MFN: 2884
النبائط شبه الموصلة - طرق الفحص المناخية والميكانيكية الجزء 6: التخزين عند درجة حرارة عالية

Technical Code: 16

Price: 20

Related Record:

JS No: 60749-6

JS Date: 01/06/2007

Title: النبائط شبه الموصلة - طرق الفحص المناخية والميكانيكية الجزء 6: التخزين عند درجة حرارة عالية

Approval Date: 17/12/2007

Last Status: م ق ا

Last Status Date: 01/08/2008

Publication Date: 31/01/2008

Effect Date: 01/08/2008

Withdrawal Date: N/A

Expiration Date: N/A

Page No: 8

Language: Arabic

Abstract: تختص هذه المواصفة لفحص النبائط شبة الموصلة عند درجة حرارة مرتفعة بدون تطبيق Electrical stress

Legal Situation: خ

Related Record (ENG):

Title (ENG): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 6: Storage at high temperature

Notes (ENG):

Abstract (ENG): The purpose of this part of standard is to test and determine the effect on all semiconductor electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is considered non-destructive but should preferably be used for device qualification.

Standard MFN: 2884

Standard No: 5

MFN: 3008
مصاهر الفولطية المنخفضة الجزء 4: المتطلبات الإضافية لوصلات المصاهر لحماية نبائط شبه الموصلات

Technical Code: 42

Price: 20

Related Record:

JS No: 60269-4

JS Date: 01/09/2007

Title: مصاهر الفولطية المنخفضة الجزء 4: المتطلبات الإضافية لوصلات المصاهر لحماية نبائط شبه الموصلات

Approval Date: 17/12/2007

Last Status: ل غ

Last Status Date: 01/08/2011

Publication Date: 31/01/2008

Effect Date: 01/08/2008

Withdrawal Date: N/A

Expiration Date: N/A

Page No: 34

Language: Arabic

Abstract: تختص المواصفة بالمتطلبات الاضافية لوصلات المصاهر لحماية نبائط شبه الموصلات

Legal Situation: خ

Related Record (ENG):

Title (ENG): Low-voltage fuses Part 4: Supplementary requirements for fuse-links for the protection of semiconductor devices

Notes (ENG):

Abstract (ENG): This standard specifies the supplementray requirements apply fo fuse-links for application in equipment containing semiconductor devices for circuits of rated voltage up 1000 V a . c or circuits of nominal voltage up 10 1500 V d . c .

Standard MFN: 3008

Standard No: 2